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ARM体系结构可用两种方法存储字数据分别是?

  • 时间:2017-10-16
  • 发布:嵌入式培训
  • 来源:企业面试题

题一:

ARM体系结构可用两种方法存储字数据分别是?

题二:

JTAG测试信号由哪五个信号组成,并分别描述。

题三:

当一个异常出现以后,ARM微处理器会执行哪几步操作?

题一答案:

大端格式和小端格式

题二答案:

JTAG测试信号由下面五个信号组成,分别描述如下。

TRST:测试复位输入信号,测试接口初始化。

TCK:测试时钟,在TCK时钟的同步作用下,通过TDI和TDO引脚串行移入/移出数据或指令;同时,也为测试访问端口TAP控制器的状态机提供时钟。

TMS:测试模式选择信号,控制测试接口状态机的操作。

TDI:测试数据输入线,其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器(由TAP控制器的当前状态及已保存在指令寄存器中的指令来控制)。

TDO:测试数据输出线,把从边界扫描链采样的数据传播至串行测试电路中的下一个芯片。

题三答案:

当一个异常出现以后,ARM微处理器会执行以下几步操作。

(1)将下一条指令的地址存入相应连接寄存器LR,以便程序在处理异常返回时能从正确的位置重新开始执行。若异常是从ARM状态进入,则LR寄存器中保存的是下一条指令的地址(当前PC+4或PC+8,与异常的类型有关);若异常是从Thumb状态进入,则在LR寄存器中保存当前PC的偏移量,这样,异常处理程序就不需要确定异常是从何种状态进入的。例如:在软件中断异常SWI,指令MOVPC,R14_svc总是返回到下一条指令,不管SWI是在ARM状态执行,还是在Thumb状态执行。

(2)将CPSR复制到相应的SPSR中。

(3)根据异常类型,强制设置CPSR的运行模式位。

(4)强制PC从相关的异常向量地址取下一条指令执行,从而跳转到相应的异常处理程序处。

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